SN74BCT8244ANT
OMRON AUTOMATION & SAFETYΟι εικόνες είναι μόνο για αναφορά.
Δείτε τις προδιαγραφές προϊόντων για τα στοιχεία του προϊόντος.
Αγορά SN74BCT8244ANT με εμπιστοσύνη από την Components-World.HK, 1 έτος εγγύηση
Δείτε τις προδιαγραφές προϊόντων για τα στοιχεία του προϊόντος.
Αγορά SN74BCT8244ANT με εμπιστοσύνη από την Components-World.HK, 1 έτος εγγύηση
Ζητήστε προσφορά
| Αριθμός μέρος | SN74BCT8244ANT |
|---|---|
| Κατασκευαστής | N/A |
| Περιγραφή | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
| Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS | Ο μόλυβδος ελεύθερος / συμβατός με RoHS |
| Τιμή Αναφοράς (σε δολάρια ΗΠΑ) | Get a quote | ||||
- Παράμετρος προϊόντος
Product parameter
| Αριθμός μέρος | SN74BCT8244ANT | Κατασκευαστής | N/A |
|---|---|---|---|
| Περιγραφή | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS | Ο μόλυβδος ελεύθερος / συμβατός με RoHS |
| Διαθέσιμη ποσότητα | 5932 pcs | Φύλλο δεδομένων | |
| Κατηγορία | Ολοκληρωμένα κυκλώματα (ICs) | Τάση τροφοδοσίας | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Συσκευασία της συσκευής με τον προμηθευτή | 24-PDIP | Σειρά | 74BCT |
| Συσκευασία | Tube | Συσκευασία / υπόθεση | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Αλλα ονόματα | 296-33847-5 SN74BCT8244ANT-ND |
Θερμοκρασία λειτουργίας | 0°C ~ 70°C |
| Αριθμός Bits | 8 | τοποθέτηση Τύπος | Through Hole |
| Επίπεδο Ευαισθησίας Υγρασίας (MSL) | 1 (Unlimited) | λογική Τύπος | Scan Test Device with Buffers |
| Κατάσταση χωρίς μόλυβδο / κατάσταση RoHS | Lead free / RoHS Compliant | Λεπτομερής περιγραφή | Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP |
| Αριθμός μέρους βάσης | 74BCT8244 |
- Σχετικά προϊόντα
- Σχετικά νέα
Σχετικά προϊόντα
- Μέρος#:
SN74BCT8373ADWRE4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC - Σε απόθεμα:
4844
- Μέρος#:
SN74BCT8245ANTG4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP - Σε απόθεμα:
5509
- Μέρος#:
SN74BCT8373ADWRG4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC - Σε απόθεμα:
4718
- Μέρος#:
SN74BCT8373ADW - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC - Σε απόθεμα:
9204
- Μέρος#:
SN74BCT8245ADW - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - Σε απόθεμα:
10130
- Μέρος#:
SN74BCT8244ANTG4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - Σε απόθεμα:
4564
- Μέρος#:
SN74BCT8240ADW - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - Σε απόθεμα:
9719
- Μέρος#:
SN74BCT8244ADW - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - Σε απόθεμα:
14085
- Μέρος#:
SN74BCT8373ADWR - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC - Σε απόθεμα:
4478
- Μέρος#:
SN74BCT8240ADWRG4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC - Σε απόθεμα:
5606
- Μέρος#:
SN74BCT8244ADWE4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - Σε απόθεμα:
10525
- Μέρος#:
SN74BCT8240ADWRE4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - Σε απόθεμα:
3997
- Μέρος#:
SN74BCT8240ADWR - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - Σε απόθεμα:
5145
- Μέρος#:
SN74BCT8245ANT - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP - Σε απόθεμα:
5000
- Μέρος#:
SN74BCT8373ANT - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP - Σε απόθεμα:
6036
- Μέρος#:
SN74BCT8240ANTG4 - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - Σε απόθεμα:
4000
- Μέρος#:
SN74BCT8244ADWR - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - Σε απόθεμα:
4241
- Μέρος#:
SN74BCT8240ANT - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - Σε απόθεμα:
4899
- Μέρος#:
SN74BCT8245ADWR - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - Σε απόθεμα:
17445
- Μέρος#:
SN74BCT760NSR - Κατασκευαστές:
N/A - Περιγραφή:
IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO - Σε απόθεμα:
4872